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FD形貌測(cè)量?jī)x突破傳統(tǒng)測(cè)量局限,專為高精度零件的微觀形貌分析而設(shè)計(jì),采用先進(jìn)的接觸式傳感器技術(shù)可精準(zhǔn)測(cè)量納米級(jí)至微米級(jí)的表面特征。
高精度輪廓測(cè)量?jī)x,可根據(jù)需求定制專用測(cè)量與分析模板,針對(duì)同類型零件實(shí)現(xiàn)一鍵批量測(cè)量。系統(tǒng)及設(shè)備設(shè)計(jì)有廣泛的接口協(xié)議支持能力,確保用戶能夠無(wú)縫地與其他多種類型的設(shè)...
威爾高速輪廓測(cè)量?jī)x,采用高速并行數(shù)據(jù)采集單元,硬件觸發(fā)、硬件高速采樣,無(wú)延時(shí)。足夠密集及穩(wěn)定的數(shù)據(jù)源為后期數(shù)據(jù)處理、計(jì)算提供最有力的保障!最大測(cè)量速度可達(dá)2mm...
標(biāo)準(zhǔn)型輪廓測(cè)量?jī)x,更新迭代,優(yōu)享尺寸測(cè)量,采用最新的PEEK改性復(fù)合材料作為測(cè)量基準(zhǔn)導(dǎo)軌的摩材料,綜合性能優(yōu)異,長(zhǎng)期使用免維護(hù)。簡(jiǎn)潔的軟件架構(gòu),將測(cè)量、分析、報(bào)...
精密測(cè)量解決方案提供商
了解客戶和行業(yè)的測(cè)量難點(diǎn)、痛點(diǎn),并提出針對(duì)性的測(cè)量解決方案。